膜厚計儀器大多存在以下問題：1)液晶屏損壞；2)主機和探頭接觸不良造成無數據顯示；3)主機無顯示;4)探頭連接后無數據出現，盡管顯示F或者NF標志。

由于返廠維修周期長，價格昂貴，zui重要的是耽誤了客戶的正常的工作。

造成問題出現的原因很多，但無外乎：

1)主板損壞；

2)軟件損壞；

3)探頭線插座損壞造成接觸不良；

4)探頭磨損嚴重，無維修價值。

泛泛的問題就是以上幾個故障，也有可能幾個問題一起出現。

膜厚儀也叫X射線測厚儀，它的原理是物質經X射線或粒子射線照射后，由于吸收多余的能量而變成不穩定的狀態。從不穩定狀態要回到穩定狀態，此物質必需將多余的能量釋放出來，而此時是以熒光或光的形態被釋放出來。熒光X射線鍍層厚度測量儀或成分分析儀的原理就是測量這被釋放出來的熒光的能量及強度，來進行定性和定量分析。   對于如何選擇膜厚儀，首先取決你企業自身的能力和經營要求，德國宏德X-射線熒光鍍層測厚儀此款產品，專為五金電鍍行業而設計的儀器，物超所值，價格優勢,無須標準片建檔校正，很多同類機器均無此功能。（此款儀器由于其*的軟件功能，在利用已采集純元素建立測量程式，無標準片的情況下亦可進行測量，并且測量表面鍍層的準確度為正負5%）；維修成本低廉，由于各電子部件充分細分化，將每個電子部件成本降至zui低；X-射線管約為三萬元，一般線路板幾千元。其它配件也*業其他廠商優惠。

可無損地測量磁性金屬基體( 如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等 )上非磁性覆蓋層的厚度(如鋁、鉻、銅、鋅、錫、琺瑯、橡膠、塑料、油漆等)，也可測量非磁性金屬基體（如銅、鋁、鋅、錫等）上非導電覆蓋層的厚度（如橡膠、油漆、塑料、陽極氧化膜等）。

本儀器可廣泛用于制造業、金屬加工業、化工業、商檢等檢測領域。由于該儀器體積小，測頭與儀器一體化，特別適用于工程現場測量；該儀器堅固耐用、用途廣泛，可單手操作。

*測量原理：磁感應法和渦流法（Fe/NFe兩用探頭）

*測量范圍：1～1250μm

*測量準確度：±[(1～3)%H+1] μm（全量程校準）

*分辨率：1μm

*工件要求：zui小曲率半徑（mm）凸5  /  凹 25 ；

接觸zui小面積直徑10mm×10mm；

基體zui小厚度Fe:0.2 mm；NFe:0.05mm

*使用環境：溫度0-60攝氏度；濕度 20%-75% ；無磁場環境

*電源：四節1.5伏AAA電池

*外形尺寸：112 ×69×28mm

*重量：82 g(不含電池)

主機、標準校準片、校準鐵基體和鋁基體、使用指南、英文檢驗報告證書、手提箱、掛繩及電池

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